Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Kennedy J., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C., Leveneur J.
Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Kennedy J., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C., Leveneur J.
Li M., Rupich M.W., Strickland N.M., Wimbush S.C., Long N.J., Knibbe R., Kluth P., Soman A.A., Notthoff C.
Ключевые слова: HTS, REBCO, YDyBCO, coated conductors, tapes, nanodoping, irradiation effects, ion irradiation, pinning, anisotropy, critical current, angular dependence, microstructure, experimental results
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, pinning, critical current, anisotropy, angular dependence, temperature dependence, experimental results
Miller D.J., Rupich M., Welp U., Fleshler S., Civale L., Ghigo G., Laviano F., Kwok W.K., Kayani A., Leroux M., Eley S., Kihlstrom K.J., Niraula P.
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Civale L., Kwok W., Kayani A., Leroux M., Eley S., Niraula P.M., Sheng H.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, magnets, quench detection, sensors, fibers, coils pancake, tensile tests, normal zone propagation, fabrication, experimental results
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Li Q., Solovyov V., Kwok W., Ozaki T., Kayani A., Koshelev A.E., Leroux M., Eley S., Kihlstrom K.
Rupich M.W., Aytug T., Leonard K.J., Zhang Y., Gapud A.A., Khan A., III F.A., Greenwood N.T., Alexander J.A.
Miller D.J., Rupich M.W., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Kayani A., Leroux M., Eley S., Niraula P.M., Kwok W.-K., Kihlstrom K.J., Holleis S., Sheng H.P.
Rupich M.W., Thieme C.L., Li X., Fleshler S., Sathyamurthy S., DeMoranville K., Tucker D., Podtburg E., Jr J.G., Whitman L.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, critical caracteristics, status, critical current, uniformity, ac losses, Jc/B curves, coils, mechanical properties, winding tension
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, RABITS process, MOD process, synchrotron, X-ray diffraction, lattice parameter, pinning, defects, experimental results, critical caracteristics, new
Miller D.J., Rupich M.W., Li X., Malozemoff A.P., Welp U., Fleshler S., Sathyamurthy S., Civale L., Kwok W.K., Jia Y., Kayani A., Leroux M., Wen J.G., Ayala-Valenzuela O.
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.